XKCON祥控在线式面粉麸皮水分仪采用近红外(NIR)技术测定麸皮的水分含量,无需加热等前期预处理

发布时间:2026-08-13阅读:42

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水分含量影响麸皮的储存稳定性和质量。如果水分含量过高,容易导致霉变和微生物滋生,影响其食用安全和营养价值。根据相关标准,面粉麸皮的水分含量一般控制在13%以下,这一标准旨在确保面粉麸皮在储存和运输过程中不易发霉变质,同时保持其良好的食用效果。

近红外光谱法:采用近红外(NIR)技术测定麸皮的水分含量,无需加热等前期预处理,通过用特定波长的近红外光照射麸皮,麸皮中所含的水就会吸收部分近红外光的能量,含水越多吸收也越多,因此通过测量反射光的减少量计算出面粉麸皮的水分含量。

XKCON祥控在线式面粉麸皮水分仪(型号:XKCON-NIR-MA-FV)利用H2O对近红外光谱在特定波长表现出峰值吸收的原理研制,此款水分仪采用近红外(NIR)技术,能够非接触、快速、精准测量水分含量,确保数据准确可靠,具有安全无污染,绿色环保等技术特点。

XKCON祥控在线式面粉麸皮水分仪(型号:XKCON-NIR-MA-FV)的产品特点:

1) 水分仪采用分体式设计,设备由近红外检测探头和主机控制器两部分组成,外壳采用密封结构,防水防尘效果好,既能可以有效解决生产现场震动带来的测量误差,同时还能排除车间粉尘的影响,保证了测量的重复性和稳定性;

2) 水分仪配置触摸显示屏,具有操作简便、维护方便的特点,近红外光谱可以照射物料,直接测量面粉麸皮表面的水分含量, 能够实现自动化测量和数据传输,减少了人工操作带来的误差。

3) 水分仪支持有线和无线通讯方式,设备将检测数据实时传输至中控系统,系统根据预设的目标水分值,实现动态反馈控制。

在线式面粉麸皮水分仪XKCON-NIR-MA-FV型将先进的近红外检测技术与自动化控制逻辑深度融合,为休闲食品加工企业提供了高效、可靠、易集成的质量控制手段。